污點規(guī)，面積對比卡

• 更新日期：2024-10-27

點卡判定污點,是用來測量、對比手機(jī)外殼、LENS、DISPLAY等部件的點、劃痕的面積、直徑、寬度、長度是否超過基準(zhǔn).精度高.可根據(jù)客戶要求進(jìn)行定制

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           蘇州勒豐精密儀器有限公司（德日維修部）專業(yè)從事日本三豐，德國馬爾等品牌，以“質(zhì)量*”為宗旨，向范圍的廣大市場提供千分尺，卡尺等量具；三坐標(biāo)測量機(jī)，形狀測量系統(tǒng)，視像測量系統(tǒng)，光學(xué)儀器等系統(tǒng)精密測量儀以及專業(yè)維修服務(wù)中心。公司技術(shù)力量雄厚，多名工程師都是來自世界*的量具生產(chǎn)企業(yè)，配件采用日本*，計量試驗室儀器都是進(jìn)口測量儀器，為客戶解決維修后精度不良的后顧之憂，品質(zhì)服務(wù)由計量質(zhì)量檢測部門支持并出具相關(guān)維修產(chǎn)品的檢測報告，并與日本三豐“Mitutoyo”總代理建立有長期穩(wěn)定的合作關(guān)系。是大陸地區(qū)*的量具量儀銷售及維修服務(wù)商之一。
     供應(yīng)點規(guī),點線規(guī),污點規(guī),比對卡,A4點規(guī) ，現(xiàn)貨大量批發(fā)，有需要請來電蘇州工業(yè)園區(qū)日開電子儀器有限公司，：
           點規(guī)通常應(yīng)用在電子行業(yè)中產(chǎn)品的外觀檢查方面。 電子廠品檢用點規(guī)線規(guī)圖，方便品檢員規(guī)范統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)。各種尺寸大小，污點卡、點規(guī)主要用于品管部門判定污點，是用來測量、對比手機(jī)外殼、DISPLAY等部件的點、劃痕的面積、直徑、寬度、長度是否超過基準(zhǔn)，適用在LCD,PCB板,光電，通信行業(yè)等.通過外觀等級的，采用點規(guī)線規(guī)卡客觀的進(jìn)行定量測定，從而統(tǒng)一全公司產(chǎn)品的外觀判定標(biāo)準(zhǔn)，縮小零部件接收部門和供應(yīng)商之間的判定誤差，可以正確的向供應(yīng)商和接收部門傳達(dá)所要求的產(chǎn)品的外觀，而不需要制作限度樣品，不需要外觀的等級！ 尺寸:各種大小， 點：從0.1到3.00線：0.02,0.05,0.08,,0.1,0.2,0.3,0.5,0.7,1.0,3.0面：0.08到1.5點規(guī)的作用 以確定一個不規(guī)則的點或線性刮傷可不可以通過檢驗要求 點規(guī)的組成 點規(guī)的大小通常為A4紙的大小，它是由點區(qū)、25%灰界面和刻度線組成。